Sol jel spin kaplama yöntemiyle elde edilen nano yapılı metal oksit filmlerinin fiziksel karakterizasyonu
Yazarlar (1)
Doç. Dr. Seval AKSOY PEHLİVANOĞLU Sinop Üniversitesi, Türkiye
| Makale Türü | Özgün Makale (Uluslararası alan indekslerindeki dergilerde yayınlanan tam makale) | ||
| Dergi Adı | PQDT-Global | ||
| Makale Dili | – | Basım Tarihi | 01-2017 |
| Makale Linki | https://search.proquest.com/openview/009fb8814817e3b9a9d6676395432460/1?pq-origsite=gscholar&cbl=2026366&diss=y | ||
| UAK Araştırma Alanları |
Yarı İletkenler
|
||
| Özet |
| Bu çalışmada sol jel spin kaplama yöntemiyle farklı alttaşlar (cam, ITO ve p-Si) üzerine metal oksit (ZnO, CdO, TiO 2 ve SnO 2) filmleri elde edilmiştir. Döndürme hızı, çözelti molaritesi, çözeltinin pH değeri, depolama sıcaklığı ve tavlama sıcaklığı gibi depolama ve çözelti parametrelerinin filmlerin kristallenmesi, yüzey morfolojileri ve yasak enerji aralığı değerlerinin üzerine etkisi araştırılmıştır. Bu araştırmalarda X-ışını kırınım spektrumları (XRD), alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FESEM) analizleri ve optik ölçümlerinden faydalanılmıştır. Ortalama kristal boyutu, örgü parametreleri ve yapılanma katsayısı gibi yapısal parametreler hesaplanmıştır. Filmlerin yüzey morfolojileri FESEM ile incelenmiştir. Optimum parametre değerleri belirlendikten sonra, belirlenen filmler kullanılarak n-XO/p-Si (X: Zn+ 2, Cd+ 2, Ti+ 4, Sn+ 4) pn heteroeklem diyotları üretilmiştir. Heteroeklem diyotların elektriksel karakterizasyonları … |
| Anahtar Kelimeler |
